粉末衍射儀，特別是粉末X射線衍射儀，是一種基于X射線衍射原理的重要分析儀器，在材料科學、化學、物理等多個領域發(fā)揮著舉足輕重的作用。其工作原理是利用具有一定發(fā)散度的特征X光束照射多晶平板樣品。多晶平板樣品中一部分被照射的小晶粒的同名衍射晶面及其等同晶面所產生的衍射線將在適當?shù)姆轿痪劢苟纬裳苌鋸姺濉＿@些被聚焦的衍射線所對應的同名晶面或等同晶面與光源和接收狹縫處在同一聚焦圓周上。在測角儀掃描過程中，聚焦圓的半徑會不斷改變，但在樣品一定深度范圍內總是存在與聚焦圓吻合的弧面。這些滿足...

X射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質測量方法，在多個領域有著廣泛的應用。其基本原理是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出次級X射線，即X射線熒光。這些次級X射線具有特定的能量或波長特性，與元素的種類有關。因此，通過測量這些次級X射線的能量或波長，可以確定樣品中存在的元素種類及其含量。X射線熒光光譜儀的維護保養(yǎng)至關重要，以下是一些關鍵的維護保養(yǎng)措施：1、儀器清潔：定期使用無紡布或棉布擦拭儀器的外表面，以保持其干凈。在清潔過程中，禁止使用含有溶劑的清潔劑，以免損壞儀器...

在上一篇“MP工具箱”文章中，我們介紹了馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer的粒徑測試報告中的的參數(shù)都代表了哪些含義，那么如何判斷納米粒度儀測試結果的質量呢？本文將就此問題給出解答。在判別Zetasizer納米粒度電位儀的測試結果前，我們要確保所測試的樣品濃度合適。對于大多數(shù)剛性納米粒子來說，在合適的濃度范圍內，粒徑大小是不隨濃度變化的。通常適合測試的樣品為半透明或接近透明狀態(tài)。還可以通過對countrate（測試光強）和attenuator（衰減器編號）等參數(shù)來考察...

本文摘要國家發(fā)改委于2005年發(fā)布了《工業(yè)用精對苯二甲酸粒度分布的測定激光衍射法》的中華人民共和國石油化工行業(yè)標準SH/T1612.8-2005。本文報告了使用馬爾文帕納科MS3000激光粒度儀按照標準方法對PTA樣品所進行的實驗過程，結果符合標準要求。對苯二甲酸PTA是重要的化工產品，主要用于生產聚酯和增塑劑。而粒度分布是其重要的產品指標。根據(jù)《工業(yè)用精對苯二甲酸粒度分布的測定激光衍射法》的中華人民共和國石油化工行業(yè)標準SH/T1612.8-2005。馬爾文帕納科MS300...

納米粒度電位儀是一種用于化學領域的分析儀器，主要用于測量納米級和亞微米級固體顆粒、乳液的粒度分布以及Zeta電位。通過動態(tài)光散射（DLS）等技術，該儀器能夠準確、快速地分析樣品的粒徑大小和分布，同時測定顆粒表面的Zeta電位，從而了解顆粒的穩(wěn)定性和表面電荷情況。納米粒度電位儀利用動態(tài)光散射原理，通過測量散射光的強度和波動來推算顆粒的粒徑大小和分布。當激光束照射到顆粒樣品上時，顆粒會散射光，散射光的強度與顆粒的大小和數(shù)量有關。通過分析散射光的波動情況，可以得到顆粒的粒徑分布信息...