X射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調查和研究，地球化學，法醫(yī)學，考古學和藝術品，例如油畫和壁畫。X射線熒光光譜儀的物理原理當材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發(fā)生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩(wěn)...

Zeta電位儀可用于測定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點、研究界面反應過程的機理。通過測定粉體的Zeta電位，從pH－Zeta電位關系圖上求出等電點，是認識粉體表面電性的重要方法，在粉體表面處理中也是重要的手段。與國內外其它同類型儀器相比，它具有顯著的*性?？蓮V泛應用于化妝品、選礦、造紙、醫(yī)療衛(wèi)生、建筑材料、超細材料、環(huán)境保護、海洋化學等行業(yè)，也是化學、化工、醫(yī)學、建材等專業(yè)的重要教學儀器之一。Zeta電位儀是由新...

X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強度，可以測定元素含量。近年來，X熒光光譜分析在各行...

X射線熒光光譜分析通過將可選項的精度管理型軟件進一步升級,并使之成為標準配備，實現(xiàn)了低價格化。與以往儀器相比，環(huán)境管制物質的測量時間大幅縮短，材料辨識功能、分析線切換功能、清晰易懂的操作面板易用性大大提高，分析速度更快，操作更簡單。X射線熒光光譜分析是一種常用的分析儀器，主要由激發(fā)源和探測系統(tǒng)構成。基本原理就是：X射線管通過產(chǎn)生入射X射線(一次X射線)，來激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線(又叫X熒光)，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量...

Insitec在線粒度分析儀粒度分布的定義所謂粒度分布，就是粉體樣品中各種大小的顆粒占顆?？倲?shù)的比例。當樣品中所有顆粒的真密度相同時，顆粒的重量分布和體積分布一致。在沒有特別說明時，儀器給出的粒度分布一般指重量或體積分布。1.公式法表達粒度分布:Rosin-Rammler公式:W(x)=1-exp[-(x/De)^N]式中，De是與x50(中位徑)成正比的常數(shù)，N則決定粒度分布的范圍，N越大，力度分布范圍越窄，表示樣品中顆粒分布的均勻性越好。2.中位徑:中位徑記作x50,表示...